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半導體器件本身的影響因素如DC增益，偏置，非線性度，頻響曲線的線性度，通道之間的匹配，量化誤差等; 測試環境特別是探頭的因素，如探頭的地線，探頭的負載效應，探頭擺放的位置，地環路的干擾等以及算法本身的影響因素。這些影響因素中，最關鍵的也是最大的一個影響因素是量化誤差。 力科的WaveRunner HRO 6Zi 12位ADC的高精度示波器能夠減小量化誤差的影響，提供更高的信噪比，更大的動態范圍，給測量帶來更高的測量準確度，因此在一系列的應用中帶來了獨特的價值，如小電壓信號的測量，大電壓信號中的局部小信號測量，更精確的FFT測量，相位噪聲測量等。