開發下一代高功率材料和器件的科研人員、科學家和設計工程師必需能夠在各種DC和脈沖功率上進行測量,檢驗待測器件性能,同時使器件自熱效應達到最小,因為自熱經常導致器件或模塊故障。這適用于材料研究、半導體器件、電路保護裝置、高級照明技術、能源貯存和生成器件及消費電子中使用的功率管理電子等市場。
“全球綠色能源計劃和能源效率標準正在推動對更高效的功率半導體器件和系統的需求。”泰克科技公司吉時利產品線總經理Mike Flaherty說,“最新的高功率應用是非常苛刻的,要求測試儀器能夠分析比以前明顯更高的電流、更高的功率、更高的峰值電流、以及更低的泄漏電流。
泰克的單通道和雙通道可擴展源和測量 2600B 系列 SourceMeter SMU 儀器單通道和雙通道型號提供業界最寬的動態范圍:10A 脈沖至 0.1fA 以及 200V 至 100nV。 Keithley 的 IVy 應用提供現代化的界面,利用強大和快速的高分辨率 SMU 儀器來執行快速 I-V 檢定。 2600B SMU 儀器極大地提升了從臺式 I-V 檢定到高度自動化生產測試的各種應用中的效率。
Keithley SMU 2600B 系列源測量單元儀器型號:2636B、2635B、2602B、2612B、2604B、2614B、2611B、2601B。