泰克半導體測試系統4200-SCS 參數分析儀適用于材料和設備電氣檢定的全面解決方案
2025/4/7 15:46:00
泰克半導體測試系統4200-SCS 是一個模塊化、完全集成的參數分析儀，用于執行材料、半導體器件和流程的電氣檢定。從基本的 I-V 和 C-V 測量掃描到先進的超快脈沖式 I-V、波形捕獲和瞬態 I-V 測量，4200-SCS 為研究人員或工程師提供設計、開發或生產所需的關鍵參數。
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