示波器、探頭的測量能力
2024/12/27 15:33:31
合適的測量儀器是測試系統能夠獲得精準的測試結果的基礎，主要包括示波器、電壓探頭、電流探頭。我們可以看到一些測試系統在測量儀器選擇上存在很大的問題，例如：
● 使用基礎示波器測量高速MOSFET、高速IGBT、SiC MOSFET，由于帶寬和采樣率嚴重不足導致測試結果與實際值偏差較大;
● 使用ADC位數為8bit的示波器測量高電壓、大電流器件，由于分辨率低導致測量值精度差;
● 使用高差分探頭測量驅動波形，導致波形噪聲大、震蕩嚴重;
● 使用羅氏線圈測量SiC MOSFET的端電流，由于帶寬嚴重不足導致測試結果與實際值偏差較大。
泰克針對被測信號的特征，在功率器件動態參數測試系統DPT1000A選擇使用了合適的測量儀器，以提升測試結果的精度。示波器選用MSO5B系列，帶寬最高可達2GHz、記錄長度高達500M并具備12位ADC，可滿足高速開關對帶寬的要求且具備較高的采樣率、更低的噪聲和更高的垂直分辨率。柵極波形測量選用無源探頭，帶寬可達1GHz、衰減倍數小并具備MMCX接口，可精準測量下管的驅動電壓，并降低了接地線的影響。
端電壓測量選用高壓差分探頭，在滿足寬電壓測量范圍的同時具有更大的輸入阻抗，提供了安全的測試保障。端電流測試選用shunt電阻，其帶寬達到1GHz以上，能夠滿足高速器件對帶寬的要求。
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