示波器測量晶體振動狀態的方法是什么?
示波器測量晶體振動狀態的方法是什么?讓我們看看!
晶體振蕩器是指從一個應時晶體上按一定方位角切割薄片(簡稱晶片),簡稱應時晶體諧振器,簡稱應時晶體或晶體和晶體振蕩;在包裝中加入集成電路形成振蕩電路的晶體元件稱為晶體振蕩器。其產品一般用金屬外殼包裝,也用玻璃外殼、陶瓷或塑料包裝。所謂應時晶體諧振器和應時晶體振蕩器的總稱。
晶體振動是利用壓電效應(物理特性),在晶片上施加機械應力時,會產生電荷偏移。
示波器測試晶體振動
晶體振動波形一般為正弦波或方波,當輸出波形為方波時,一般上升沿較抖,并含有較多的高頻信號,此時要保證測試帶寬足夠,理論值是被測信號頻率的2倍,實際測試方波時,帶寬應為被測信號頻率的10倍。
除帶寬外,在測試晶振時,還應注意以下幾點:晶振對電容負荷敏感,探頭電容相對較大,相當于將重負荷并聯于晶振電路,容易導致電路停振,無法得到正確的測量結果。
因此,在進行晶體振動測試時,需要確保足夠的帶寬和較小的輸入電容。
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