泰克吉時利4200-SCS 半導體特性分析系統
2017/12/11 10:13:50
泰克吉時利4200-SCS半導體特性分析系統是用于器件、材料和半導體工藝參數分析的完整解決方案。這種先進的參數分析儀具有無可比擬的測量靈敏度和精度，同時繼承了嵌入式Windows操作系統合及時利交互式測試環境，為半導體科研及產業用戶進行半導體器件特性分析提供了直觀而高級的功能。它是一套功能強大的單機解決方案。4200-SCS半導體特性分析系統采用了模塊化、可配置、可升級的架構。這使得它能夠準確滿足當前的測量需求，也可以模塊擴展以滿足后續的需求。
它可以支持多達9個精密直流源-測量單元能夠提供和測量0.1fA到1A的電流或者1μV-210V的電壓；
利用4210-CVU（C-V）模塊可以方便的在1KHz-10MHz測試頻率下進行交流阻抗測試。可以測量的電容范圍從aF級到μF級；
利用可選的4225-PMU超快I-V模塊可以進行脈沖和舜態測量。
吉時利交互式測試環境（KITE）提供了一套完整的圖形用戶界面，無需編程即可支持幾乎所有類型的特性分析測試。它提供了多達456種標準的特性分析測試庫，包括MOSFET，BJT晶體管、二極管、電阻器、電容器、太陽能電池、碳納米管和NVM存儲器，例如Flash、PRAM，PCRAM等。
