Keithley S530 參數化測試系統
- Keithley S530 參數化測試系統
- 通過自動探頭測試臺實現精密高速測量 S530 參數化測試系統適用于必須操作各種設備和技術的生產和實驗室環境，提供業界領先的測試計劃靈活性、自動化、探頭測試臺集成以及測試數據管理功能。Keithley 擁有超過 30 年的專業經驗，針對這些測試解決方案的設計向全世界的客戶提供各種標準和自定義參數化測試儀。 S500 集成式測試系統是高度可配置的、基于儀器的系統，適用于器件、晶片或暗盒級半導體檢定。S500 集成式測試系統基于我們經過驗證的儀器，提供創新的測量功能和系統靈活性，并且根據您的需求可進行擴展。獨有的測量能力結合強大而靈活的自動化檢定套件 (ACS) 軟件，提供市場上其他同類系統無法提供的廣泛應用和功能。
- 適用于自動晶片級測試的標準和自定義配置系統
